Crystal Dew World 総合掲示板

▼おにさん：
>各計測の前に、テストファイルを作り直す(実際には計測領域のシーケンシャルライトに近い)ようなオプション機能の追加をご検討いただけないでしょうか。
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>現状、NVMeSSDの計測をMix付きで行いますと、「SEQ1M Q8T1」の計測結果が遅めにでます。
>これは、直前にランダムライトの計測を行っているためだと考えています。
>(個別に計測したり、シーケンシャルアクセス計測直後に計測すると速いため。)
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>直前にランダムライトの計測を行うことにより、SSD内部のデータがNANDフラッシュメモリ上でバラバラに配置され、SSD内部ではランダムリードに近い処理となることから、結果もそれに近くなっています。
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>Log1.png : 通常の計測内容
>Log2.png : 最下段の計測を「SEQ1M Q8T1」に変更
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>Log2では、最上段のMix計測がLog1よりも速いですが、最下段のMix計測は同じ計測内容でも直前に「RND4K Q32T16」のMix計測を行っているために、遅くなってしまっています。
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>Windows上における計測のため、FormatNVMや全領域TRIMのようなプリコンディショニングは難しいと思いますが、今回のように「Read」や「Mix」で直接アクセスするデータぐらいは、同条件にできるオプションが欲しいです。
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>ご検討のほどよろしくお願いします。
ご提案ありがとうございます。

テストごとにテストファイルを作り直すというのは良いアイディアですね。

バージョンの変更が必要となるため、今すぐとはなりませんが、次のバージョンアップの際にオプションとしての追加を検討させていただきます。
https://github.com/hiyohiyo/CrystalDiskMark/issues/19