Crystal Dew World 総合掲示板

各計測の前に、テストファイルを作り直す(実際には計測領域のシーケンシャルライトに近い)ようなオプション機能の追加をご検討いただけないでしょうか。

現状、NVMeSSDの計測をMix付きで行いますと、「SEQ1M Q8T1」の計測結果が遅めにでます。
これは、直前にランダムライトの計測を行っているためだと考えています。
(個別に計測したり、シーケンシャルアクセス計測直後に計測すると速いため。)

直前にランダムライトの計測を行うことにより、SSD内部のデータがNANDフラッシュメモリ上でバラバラに配置され、SSD内部ではランダムリードに近い処理となることから、結果もそれに近くなっています。

Log1.png : 通常の計測内容
Log2.png : 最下段の計測を「SEQ1M Q8T1」に変更

Log2では、最上段のMix計測がLog1よりも速いですが、最下段のMix計測は同じ計測内容でも直前に「RND4K Q32T16」のMix計測を行っているために、遅くなってしまっています。

Windows上における計測のため、FormatNVMや全領域TRIMのようなプリコンディショニングは難しいと思いますが、今回のように「Read」や「Mix」で直接アクセスするデータぐらいは、同条件にできるオプションが欲しいです。

ご検討のほどよろしくお願いします。